Proyecto seleccionado

	Imágenes en el ultravioleta lejano y extremo
	Instituto de Física Aplicada

Objetivos del proyecto:

La observación del universo en la región espectral del ultravioleta lejano (FUV) y extremo (EUV), en el intervalo 50-125 nm, que ha sido mayoritariamente inaccesible para los astrónomos, contiene una gran cantidad de información de enorme interés para la Astrofísica. La tecnología de la instrumentación para estas observaciones, que han de hacerse desde el espacio, necesita del desarrollo de nuevos componentes ópticos, tales como espejos y filtros de gran eficiencia y selectividad. Por otra parte la rugosidad de los recubrimientos ópticos produce pérdidas de eficiencia a causa del scattering, por lo que aparece como un parámetro a determinar con precisión para poder minimizar sus efectos. El objetivo general del proyecto es el estudio teórico y experimental de elementos ópticos selectivos en el FUV y EUV que hagan posible la realización de imágenes en torno a las siguientes líneas espectrales de interés en astrofísica, física solar y física de la atmósfera: el doblete 103.2 y 103.8 nm del OVI, el doblete 123.8 y 124.2 nm del NV y las líneas 53.6 y 58.4 nm del HeI. Estudiaremos dos tipos de elementos ópticos: multicapas de dos o más materiales diferentes, que operan por reflexión, y filtros, que operan por transmisión. Para el desarrollo de multicapas y filtros con gran eficiencia en una banda espectral y gran rechazo de la radiación fuera de banda realizaremos una búsqueda de materiales transparentes o con baja absorción en la banda deseada. Para ello efectuaremos la preparación de láminas delgadas de diversos materiales, seguida de un trabajo de caracterización a través de la medida de su reflectancia, transmitancia y rugosidad. La investigación propuesta puede encontrar aplicación inmediata en el telescopio UVISS (UV Italian Sky Surveyor), instrumento que ha sido propuesto por varias universidades y observatorios astronómicos italianos a la “Agenzia Spaziale Italiana” con el objetivo, entre otros, de obtener imágenes del Sol en bandas estrechas del FUV-EUV. Por otro lado, la importancia del scattering en la reflexión de la radiación sobre una superficie crece al disminuir la longitud de onda de la radiación, induciendo en los espejos o redes pérdidas de eficiencia crecientes para las longitudes de onda más cortas. Por ello es de suma importancia la determinación de la rugosidad superficial de las láminas delgadas que se pretende utilizar en el FUV y el EUV, mediante los procedimientos de medida por análisis frecuencial que hemos venido poniendo a punto y perfeccionando a partir de imágenes de microscopía STM. Los estudios previos que hemos realizado sobre capas de oro van a completarse en este proyecto analizando capas, metálicas o de dieléctricos, con superficie no conductora. Para ello se adquirirá y pondrá a punto un sistema de microscopía AFM, utilizando toda la experiencia acumulada en el trabajo anterior con microscopía STM. La relación entre la rugosidad superficial así determinada y los parámetros de deposición de las láminas estudiadas puede permitir extraer algunas consecuencias de ciencia básica sobre el proceso de crecimiento de las láminas delgadas en sus estadios iniciales, y además consecuencias prácticas encaminadas a la disminución de la rugosidad para la obtención de láminas con un comportamiento más eficiente en el FUV-EUV.

	Datos generales del proyecto
	Titulo oficial:
	Estudio de propiedades ópticas y análisis de la estructura superficial de láminas delgadas de materiales de interés para las regiones ultravioleta lejano (FUV) y ultravioleta extremo (EUV) del espectro
	Investigador Principal y equipo:
	Investigador Principal:Juan Ignacio Larruquert GoicoecheaInvestigadores:Juan Pedro Adrados Encinas, José Antonio Aznarez Candao, José Antonio Mendez Morales
	Teléfono: Contacto: [email protected] Comunidad Autónoma: Madrid Idioma: Castellano

		Más Información

Página web:

www.ifa.csic.es/